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| Fabricante | THERMOFISHER |
|---|---|
| Modelo | Quanta200 FEG-ESEM |
| Año | 2007 |
| Ubicación | Luxembourgo
|
THERMOFISHER Quanta200 FEG-ESEM (fabricado en 2007)
Resumen
El Quanta 200 FEG-ESEM es un microscopio electrónico de barrido con emisión de campo y capacidad SEM ambiental, diseñado para análisis estructurales y tareas automatizadas en una amplia variedad de tipos de muestras, incluyendo especímenes no conductores, hidratados, biológicos o contaminados sin necesidad de preparación extensa. El sistema soporta modos de alto vacío, bajo vacío y SEM ambiental e incluye un cañón de emisión de campo (FEG).
Especificaciones clave del instrumento (según suministro)
- Cañón de emisión de campo (FEG)
- Voltaje de operación: 0,5–30 kV
- Resolución espacial: 15 kV: 2,1 nm; 1 kV: 5 nm
- Corriente de sonda: <100 nA
- Rangos de vacío/ESEM citados en la información suministrada para operación HV, LV y ESEM
Detectores y análisis incluidos
- Detector de electrones secundarios (SE)
- Detector de electrones retrodispersados (BSE)
- Espectroscopía de rayos X dispersiva en energía (EDS/EDX): GENESIS XM 4i con detector tipo Si(Li) (EDAX) y un dewar de nitrógeno líquido de 10 litros
Cámaras, etapas y manejo de muestras
- Gran cámara de muestras con etapa motorizada
- Etapa Peltier (-20 °C a +100 °C)
- Etapa de calentamiento de alta temperatura (1500 °C)
Accesorios, controles y equipo de soporte
- Dos computadoras que manejan tres pantallas
- Mesa de control con teclado, ratón y un controlador de múltiples perillas
- Transformador de potencia
- Sistema de bombeo según suministro (bombas moleculares turbo x2 y bomba rotativa para la cámara principal; bombas iónicas x2 para la columna de electrones)
- CD-ROMs (FEI y EDAX) y manuales de usuario
Mantenimiento y disponibilidad
- Mantenimiento preventivo supuestamente realizado anualmente por ingenieros de servicio de FEI
- Reemplazo de punta FEG reportado para abril de 2026
- Sistema listado como disponible en septiembre de 2026
Condición y elementos visibles
- El canister del detector EDAX EDS está montado en la columna
- Estación de trabajo con doble monitor presente; las pantallas muestran ventanas espectrales y de imágenes SEM
- Control remoto con múltiples perillas, teclado y ratón incluidos en el puesto de operación
- Múltiples torres de computadora y electrónica presentes debajo del escritorio y adyacentes al gabinete; cableado extenso direccionado hacia la parte trasera y el suelo (la ruta del cableado parece congestionada)
- Gran gabinete del instrumento muestra una luz indicadora iluminada en verde; el exterior presenta pequeños roces pero sin daños mayores evidentes
- Monitores y electrónica de control parecen estar encendidos
Notas y limitaciones
Todos los detalles técnicos y listas de accesorios arriba indicados se toman de la descripción del equipo suministrado y de los elementos visuales listados. No se hacen afirmaciones sobre pruebas operativas, rendimiento actual o garantía a menos que se indique explícitamente en la información suministrada.
La siguiente descripción se ha generado mediante inteligencia artificial a partir de la información disponible del producto. Se ofrece solo como orientación y podría no reflejar todas las especificaciones o condiciones. Contáctenos si necesita información precisa o confirmada.
El Quanta 200 FEG es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo capaz de obtener toda la información disponible de cualquier tipo de muestra. Se trata de un auténtico instrumento «todo en uno», especialmente adecuado para el análisis estructural y la automatización de tareas. Se trata de la segunda generación de sistemas Quanta FEG, que ofrece una resolución y un contraste de imagen mejorados, así como un nuevo sistema de imagen opcional que puede controlarse a distancia.
Se suministra con un cañón de emisión de campo y es capaz de funcionar tanto en condiciones de alto vacío (HV; P < 6,10⁻⁴ Pa) como de bajo vacío (LV; P = 10 a 130 Pa), así como en modo SEM ambiental (ESEM; P = 10 a 2700 Pa con vapor de agua).
La capacidad ESEM permite obtener imágenes de muestras no conductoras, hidratadas, biológicas o contaminadas sin necesidad de una preparación exhaustiva.
Características del instrumento:
• Pistola de emisión de campo
• Resolución espacial: 15 kV: 2,1 nm, 1 kV: 5 nm
• Tensión de funcionamiento: 0,5-30 kV
• Corriente de sonda: < 100 nA
El instrumento está equipado con:
• Detector de electrones secundarios (SE)
• Detector de electrones retrodispersados (BSE)
• Sistema de espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS/EDX) para análisis elemental (GENESIS XM 4i con detector de tipo Si(Li) [ventana superultrafina] de EDAX y un dewar de nitrógeno líquido de 10 litros
• Cámara de muestras de gran tamaño y platina motorizada
• Platina Peltier (-20 °C - +100 °C)
• Platina calefactora (1500 °C)
También se incluyen
• 2 ordenadores – 3 pantallas
• Transformador de potencia
• Mesa de control
• Sistema de bombeo (bombas turbomoleculares (x2) y bomba rotativa en la cámara principal + bombas iónicas (x2) para la columna de electrones)
• CD-ROM (FEI y EDAX)
• Manuales de usuario
Los ingenieros de servicio de FEI realizaban un mantenimiento preventivo anual.
La punta del FEG se sustituyó en abril de 2026.
Sistema disponible en septiembre de 2026.
Tenga en cuenta que esta descripción podría haber sido traducida o optimizada automáticamente mediante inteligencia artificial (IA). La información de este anuncio clasificado es solo indicativa. Recomendamos verificar los detalles con el vendedor antes de realizar una compra.
¿Incluye este equipo instalación, servicios o garantías?
Este equipo no incluye instalación, servicios ni garantías.
¿Qué tipo de instrumento es este FEI Quanta 200FEG-ESEM?
Este FEI Quanta 200FEG-ESEM es un microscopio electrónico de barrido.
¿Cuándo se fabricó este FEI Quanta 200FEG-ESEM?
Este FEI Quanta 200FEG-ESEM fue fabricado en 2007.
Las siguientes preguntas y respuestas se generan mediante inteligencia artificial a partir de la información disponible sobre el producto. Se facilitan a título orientativo y pueden no reflejar todas las especificaciones o condiciones. Póngase en contacto con nosotros si necesita detalles precisos o confirmados.
| Tipo de cliente | Fábrica – Gran empresa |
| Activo desde | 2026 |
| Ofertas en línea | 1 |
| Última actividad | 3 de octubre de 2026 |
El Quanta 200 FEG es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo capaz de obtener toda la información disponible de cualquier tipo de muestra. Se trata de un auténtico instrumento «todo en uno», especialmente adecuado para el análisis estructural y la automatización de tareas. Se trata de la segunda generación de sistemas Quanta FEG, que ofrece una resolución y un contraste de imagen mejorados, así como un nuevo sistema de imagen opcional que puede controlarse a distancia.
Se suministra con un cañón de emisión de campo y es capaz de funcionar tanto en condiciones de alto vacío (HV; P < 6,10⁻⁴ Pa) como de bajo vacío (LV; P = 10 a 130 Pa), así como en modo SEM ambiental (ESEM; P = 10 a 2700 Pa con vapor de agua).
La capacidad ESEM permite obtener imágenes de muestras no conductoras, hidratadas, biológicas o contaminadas sin necesidad de una preparación exhaustiva.
Características del instrumento:
• Pistola de emisión de campo
• Resolución espacial: 15 kV: 2,1 nm, 1 kV: 5 nm
• Tensión de funcionamiento: 0,5-30 kV
• Corriente de sonda: < 100 nA
El instrumento está equipado con:
• Detector de electrones secundarios (SE)
• Detector de electrones retrodispersados (BSE)
• Sistema de espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS/EDX) para análisis elemental (GENESIS XM 4i con detector de tipo Si(Li) [ventana superultrafina] de EDAX y un dewar de nitrógeno líquido de 10 litros
• Cámara de muestras de gran tamaño y platina motorizada
• Platina Peltier (-20 °C - +100 °C)
• Platina calefactora (1500 °C)
También se incluyen
• 2 ordenadores – 3 pantallas
• Transformador de potencia
• Mesa de control
• Sistema de bombeo (bombas turbomoleculares (x2) y bomba rotativa en la cámara principal + bombas iónicas (x2) para la columna de electrones)
• CD-ROM (FEI y EDAX)
• Manuales de usuario
Los ingenieros de servicio de FEI realizaban un mantenimiento preventivo anual.
La punta del FEG se sustituyó en abril de 2026.
Sistema disponible en septiembre de 2026.
Tenga en cuenta que esta descripción podría haber sido traducida o optimizada automáticamente mediante inteligencia artificial (IA). La información de este anuncio clasificado es solo indicativa. Recomendamos verificar los detalles con el vendedor antes de realizar una compra.
¿Incluye este equipo instalación, servicios o garantías?
Este equipo no incluye instalación, servicios ni garantías.
¿Qué tipo de instrumento es este FEI Quanta 200FEG-ESEM?
Este FEI Quanta 200FEG-ESEM es un microscopio electrónico de barrido.
¿Cuándo se fabricó este FEI Quanta 200FEG-ESEM?
Este FEI Quanta 200FEG-ESEM fue fabricado en 2007.
Las siguientes preguntas y respuestas se generan mediante inteligencia artificial a partir de la información disponible sobre el producto. Se facilitan a título orientativo y pueden no reflejar todas las especificaciones o condiciones. Póngase en contacto con nosotros si necesita detalles precisos o confirmados.
THERMOFISHER Quanta200 FEG-ESEM (fabricado en 2007)
Resumen
El Quanta 200 FEG-ESEM es un microscopio electrónico de barrido con emisión de campo y capacidad SEM ambiental, diseñado para análisis estructurales y tareas automatizadas en una amplia variedad de tipos de muestras, incluyendo especímenes no conductores, hidratados, biológicos o contaminados sin necesidad de preparación extensa. El sistema soporta modos de alto vacío, bajo vacío y SEM ambiental e incluye un cañón de emisión de campo (FEG).
Especificaciones clave del instrumento (según suministro)
- Cañón de emisión de campo (FEG)
- Voltaje de operación: 0,5–30 kV
- Resolución espacial: 15 kV: 2,1 nm; 1 kV: 5 nm
- Corriente de sonda: <100 nA
- Rangos de vacío/ESEM citados en la información suministrada para operación HV, LV y ESEM
Detectores y análisis incluidos
- Detector de electrones secundarios (SE)
- Detector de electrones retrodispersados (BSE)
- Espectroscopía de rayos X dispersiva en energía (EDS/EDX): GENESIS XM 4i con detector tipo Si(Li) (EDAX) y un dewar de nitrógeno líquido de 10 litros
Cámaras, etapas y manejo de muestras
- Gran cámara de muestras con etapa motorizada
- Etapa Peltier (-20 °C a +100 °C)
- Etapa de calentamiento de alta temperatura (1500 °C)
Accesorios, controles y equipo de soporte
- Dos computadoras que manejan tres pantallas
- Mesa de control con teclado, ratón y un controlador de múltiples perillas
- Transformador de potencia
- Sistema de bombeo según suministro (bombas moleculares turbo x2 y bomba rotativa para la cámara principal; bombas iónicas x2 para la columna de electrones)
- CD-ROMs (FEI y EDAX) y manuales de usuario
Mantenimiento y disponibilidad
- Mantenimiento preventivo supuestamente realizado anualmente por ingenieros de servicio de FEI
- Reemplazo de punta FEG reportado para abril de 2026
- Sistema listado como disponible en septiembre de 2026
Condición y elementos visibles
- El canister del detector EDAX EDS está montado en la columna
- Estación de trabajo con doble monitor presente; las pantallas muestran ventanas espectrales y de imágenes SEM
- Control remoto con múltiples perillas, teclado y ratón incluidos en el puesto de operación
- Múltiples torres de computadora y electrónica presentes debajo del escritorio y adyacentes al gabinete; cableado extenso direccionado hacia la parte trasera y el suelo (la ruta del cableado parece congestionada)
- Gran gabinete del instrumento muestra una luz indicadora iluminada en verde; el exterior presenta pequeños roces pero sin daños mayores evidentes
- Monitores y electrónica de control parecen estar encendidos
Notas y limitaciones
Todos los detalles técnicos y listas de accesorios arriba indicados se toman de la descripción del equipo suministrado y de los elementos visuales listados. No se hacen afirmaciones sobre pruebas operativas, rendimiento actual o garantía a menos que se indique explícitamente en la información suministrada.
La siguiente descripción se ha generado mediante inteligencia artificial a partir de la información disponible del producto. Se ofrece solo como orientación y podría no reflejar todas las especificaciones o condiciones. Contáctenos si necesita información precisa o confirmada.
| Tipo de cliente | Fábrica – Gran empresa |
| Activo desde | 2026 |
| Ofertas en línea | 1 |
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2010
Alemania
Inglaterra
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Сканиращ електронен микроскоп: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Rastrovací elektronový mikroskop: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Scanningelektronmikroskop: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Rasterelektronenmikroskop: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Scanning Electron Microscope: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Microscopio electrónico de barrido: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Microscope électronique à balayage : FEI Quanta 200FEG-ESEM
Skener elektronski mikroskop: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Pásztázó elektronmikroszkóp: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Microscopio elettronico a scansione: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Skanuojantis elektroninis mikroskopas: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Scanning-elektronenmicroscoop: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Mikroskop elektronowy skaningowy: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Microscópio Eletrónico de Varrimento: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Microscop electronic de baleiaj: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Сканирующий электронный микроскоп: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Skenirajući elektronski mikroskop: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Svepelektronmikroskop: FEI Quanta 200FEG-ESEM
Taramalı Elektron Mikroskobu: FEI Quanta 200FEG-ESEM
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