| Fabricante | Nanometrics |
|---|---|
| Modelo | Nanospec AFT2100 |
| Año | |
| Ubicación | Estados Unidos
|
El Nanometrics Nanospec AFT2100 es un espectrómetro de espesor de película diseñado para la medición precisa de películas delgadas que van desde 100 angstroms hasta 50 micras de espesor. Este instrumento ha sido mejorado con objetivos Olympus MS Plan corregidos para infinito en aumentos de 5x, 10x y 50x, que incluyen un nuevo iluminador vertical para mejorar la precisión y versatilidad de la medición. El espectrómetro presenta un tamaño de punto ajustable desde 6,5 micras hasta 65 micras, permitiendo un análisis detallado de áreas pequeñas de la muestra.
Funcionando dentro de un rango de longitud de onda de 400 a 800 nanómetros, el Nanospec AFT2100 soporta 16 pruebas estándar de película. Además, puede medir películas especiales permitiendo al usuario ingresar el índice de refracción, proporcionando flexibilidad para una variedad de materiales. El instrumento incluye un microscopio óptico con lentes objetivas y un escenario, así como una cámara o unidad sensor adjunta para capturar y analizar muestras.
La configuración se complementa con una fuente de iluminación integrada en el microscopio, que ayuda en la visualización de la muestra. Un monitor de computadora y un teclado forman parte del sistema, permitiendo la interacción del usuario y la visualización de datos. Se ha observado que el monitor muestra información relacionada con tipos comunes de películas como óxido sobre silicio, nitruro sobre silicio y poliimida sobre silicio, indicando la aplicación del instrumento en metrología de semiconductores.
Esta unidad ha sido reacondicionada por técnicos capacitados en fábrica de Nanometrics a partir de marzo de 2022, asegurando que cumple con los estándares del fabricante. En general, el Nanospec AFT2100 es una solución integral para la medición precisa del espesor de película en entornos de investigación de semiconductores y materiales.
La siguiente descripción se ha generado mediante inteligencia artificial a partir de la información disponible del producto. Se ofrece solo como orientación y podría no reflejar todas las especificaciones o condiciones. Contáctenos si necesita información precisa o confirmada.
espesor de película de 100A a 50 micras
Actualización a los nuevos objetivos Olympus MS Plan 5x/10x/50x corregidos al infinito, incluido el nuevo iluminador vertical
tamaño de punto de 6,5um a 65um
rango de longitud de onda 400-800nm
16 pruebas de películas estándar
se pueden medir películas especiales introduciendo el índice de refracción
Refurbished by Nanometrics factory trained technicians Marzo 2022
Tenga en cuenta que esta descripción podría haber sido traducida o optimizada automáticamente mediante inteligencia artificial (IA). La información de este anuncio clasificado es solo indicativa. Recomendamos verificar los detalles con el vendedor antes de realizar una compra.
| Tipo de cliente | Distribuidor de maquinaria |
| Activo desde | 2019 |
| Ofertas en línea | 58 |
| Última actividad | 10 de septiembre de 2026 |
espesor de película de 100A a 50 micras
Actualización a los nuevos objetivos Olympus MS Plan 5x/10x/50x corregidos al infinito, incluido el nuevo iluminador vertical
tamaño de punto de 6,5um a 65um
rango de longitud de onda 400-800nm
16 pruebas de películas estándar
se pueden medir películas especiales introduciendo el índice de refracción
Refurbished by Nanometrics factory trained technicians Marzo 2022
Tenga en cuenta que esta descripción podría haber sido traducida o optimizada automáticamente mediante inteligencia artificial (IA). La información de este anuncio clasificado es solo indicativa. Recomendamos verificar los detalles con el vendedor antes de realizar una compra.
El Nanometrics Nanospec AFT2100 es un espectrómetro de espesor de película diseñado para la medición precisa de películas delgadas que van desde 100 angstroms hasta 50 micras de espesor. Este instrumento ha sido mejorado con objetivos Olympus MS Plan corregidos para infinito en aumentos de 5x, 10x y 50x, que incluyen un nuevo iluminador vertical para mejorar la precisión y versatilidad de la medición. El espectrómetro presenta un tamaño de punto ajustable desde 6,5 micras hasta 65 micras, permitiendo un análisis detallado de áreas pequeñas de la muestra.
Funcionando dentro de un rango de longitud de onda de 400 a 800 nanómetros, el Nanospec AFT2100 soporta 16 pruebas estándar de película. Además, puede medir películas especiales permitiendo al usuario ingresar el índice de refracción, proporcionando flexibilidad para una variedad de materiales. El instrumento incluye un microscopio óptico con lentes objetivas y un escenario, así como una cámara o unidad sensor adjunta para capturar y analizar muestras.
La configuración se complementa con una fuente de iluminación integrada en el microscopio, que ayuda en la visualización de la muestra. Un monitor de computadora y un teclado forman parte del sistema, permitiendo la interacción del usuario y la visualización de datos. Se ha observado que el monitor muestra información relacionada con tipos comunes de películas como óxido sobre silicio, nitruro sobre silicio y poliimida sobre silicio, indicando la aplicación del instrumento en metrología de semiconductores.
Esta unidad ha sido reacondicionada por técnicos capacitados en fábrica de Nanometrics a partir de marzo de 2022, asegurando que cumple con los estándares del fabricante. En general, el Nanospec AFT2100 es una solución integral para la medición precisa del espesor de película en entornos de investigación de semiconductores y materiales.
La siguiente descripción se ha generado mediante inteligencia artificial a partir de la información disponible del producto. Se ofrece solo como orientación y podría no reflejar todas las especificaciones o condiciones. Contáctenos si necesita información precisa o confirmada.
| Tipo de cliente | Distribuidor de maquinaria |
| Activo desde | 2019 |
| Ofertas en línea | 58 |
| Última actividad | 10 de septiembre de 2026 |
Система за измерване на дебелината на филма Nanometrics Nanospec AFT2100
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